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PMI检测算法

  • 分类：半导体
  • 作者：
  • 来源：
  • 发布时间：2019-08-30 09:34
  • 访问量：9

【概要描述】

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PMI检测算法

【概要描述】

  • 分类：半导体
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　　在半导体生产行业，需要对已经刻蚀的目标进行电测，测试不过的模块就会用探针做一个标识。模块本身的尺寸非常小，因此需要进行高精度的定位。除此之外，还需要将探针的针迹也一起找出来。

　　下图是优纳科技提供的一个矩形模块及针迹的查找方案，已经在半导体检测领域得到广泛应用。其特点在于：

　　1. 图像背景非常复杂，有时候难以区分目标和背景;

　　2. 针迹的形态不可预测，很多时候针迹会溢出到模块外包和背景连在一起使得区分困难;

　　3. 高速高精度处理。

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