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晶元坏点查找

  • 分类：半导体
  • 作者：
  • 来源：
  • 发布时间：2019-08-30 09:37
  • 访问量：9

【概要描述】

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晶元坏点查找

【概要描述】

  • 分类：半导体
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　　在半导体生产行业，需要对已经刻蚀的目标进行电测，测试不过的模块就会用探针做一个标识。一片晶圆上需要标识的模块非常多，有时候需要快速地将所有标识过的模块一次性找出来。应用难点是标识和刻蚀的纹理常常混在一起难于区分。

　　下图是优纳科技提供的一个多目标查找的解决方案，已经在半导体检测领域得到广泛应用。其特点在于：

　　1. 图像背景非常复杂，有时候难以区分标识和背景;

　　2. 标识的形态变换较大，大小，形状都不相同;

　　3. 高速高精度处理。

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